• 瑞典Gasporox全新一代激光頂空殘氧儀測量醫(yī)藥包裝內(nèi)殘氧及真空度踏浪而來

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• 殘氧分析儀制藥行業(yè)通常采用N2作為保護氣來保護氧敏感的產(chǎn)品免受氧化的影響，為了達到預期的保護效果，往往需要控制殘氧濃度。常見的殘氧分析儀運用的測試方法通常包括電化學法、氧化鋯法、熒光衰減法、激光法等。 產(chǎn)品：SADP露點儀|在線露點儀| 肖氏露點傳感器|肖氏露點儀|頂空分析儀|藥品殘氧儀|壓縮空氣露點儀|Mocon透氧儀|膜康透濕儀|PBI頂空分析儀|露點儀品牌|露點儀價格|露點儀批發(fā)|Hitech氧氣分析儀|Hitech熱導氣體分析儀|Hitech氫氣分析儀|哈奇便攜式氧分析儀|Hitech微量氧分析儀|恩特龍氧分析儀|Neutronics氧分析儀CMC微量水分析儀總代理|露點儀廠家|代表處|分公司|子公司|辦事處|總代理

• 電化學法是基于電化學傳感器原理對殘氧進行測定，測量時將針頭刺入包裝，抽取樣氣進行分析。該方法的成本比較低，操作簡便。適用于制藥QC部門抽檢測試。

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氧化鋯法是基于氧化鋯傳感器原理對殘氧進行測定，測量時也需要將針頭刺入包裝，抽取樣氣進行分析，氧化鋯傳感器的壽命較長，適用于在線殘氧監(jiān)測，減少傳感器的替換頻率。氧化鋯傳感器相比電化學傳感器的精度要高，*小分辨率達ppm（圖1），電化學傳感器的*小分辨率為0.01%（圖2）。因此，氧化鋯法更適用于對精度要求高的應用，比如N2純度驗證中測試殘氧，通常要做到ppm濃度級別。另外，有的企業(yè)的內(nèi)控標準很嚴格，比如內(nèi)控標準為殘氧必須要低于1%，那么這種情況下，采用氧化鋯法比較合適。

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• 熒光衰減法是基于熒光衰減的原理測定頂空的氧分壓，并將氧分壓轉換為氧氣體積分數(shù)。該方法的殘氧分析儀有2種測試模式：

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       1、將熒光貼片吸附在容器內(nèi)壁，將熒光探頭放在容器外側對準熒光貼片進行照射，從而獲得所需的氧濃度。這種測試模式由于需要將熒光貼片放置到容器內(nèi)部，更適合于留樣管理，即針對同一個包裝容器進行多次反復測試，可以隨著時間跟蹤容器內(nèi)的殘氧變化情況。

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• 2、將熒光貼片內(nèi)置到針頭里面，采用針頭刺入包裝測試，這種測試模式和電化學或氧化鋯法比較類似，都需要將針頭刺入包裝進行測試，但是該方法相比電化學或氧化鋯法，不需要抽取氧氣進行分析，也就是說，該方法具有零采樣量的優(yōu)勢，這種原理尤其適用于具有負壓的容器，如凍干粉針西林瓶。因為在負壓下，電化學或氧化鋯法的泵抽氣時會有困難。此外，該原理也適用于小頂空（頂空<2mL）的容器，因為小頂空容器的頂空體積比較少，不足以達到電化學或氧化鋯法的*小采樣量要求。如果采用電化學或氧化鋯法測試，數(shù)據(jù)可能會有一定偏差。

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• 激光法是測量殘氧的所有技術中相對比較先進的技術，它和熒光衰減法類似，也是基于光學的原理，但是又有不同的地方，它無需熒光貼片，只需在容器的一側發(fā)射光，穿過容器頂空后在容器的另一側對光的信號進行接收。在激光穿透容器頂空時，頂空部分的氧會吸收激光的能量，激光吸收量和氧濃度成正比。由于激光法無需熒光貼片，也不需要采用針頭刺入包裝，實現(xiàn)了真正的’無損’測試，因此，該方法備受很多優(yōu)異藥企的青睞。激光法除了能測量頂空殘氧，也可以測量頂空的真空度，特別適用于凍干粉針的真空度分析。通常激光法測殘氧需要將波長調節(jié)到760nm，在該波長下，氧分子對激光有*大的吸收值。同理，如果將波長調節(jié)到1400nm，在該波長下，水汽分子對激光有*大的吸收值，吸收峰的峰高（振幅）和水汽含量成正比，而吸收峰的寬度和頂空壓力（或真空度）成正比（圖5）。目前激光法測真空度是已知的***能無損測真空度的***技術。

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